Ic測(cè)試座(測(cè)試插座)是對(duì)ic器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。
1.什么是ic測(cè)試座
ic測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書(shū)所規(guī)定的功能及性能指標(biāo)。
ic測(cè)試座特點(diǎn)：
1、有一條進(jìn)料管，一條ok出料管及一條fall出料管，由電磁鐵驅(qū)動(dòng)分選棱到ok/fail管
2、有自動(dòng)，ok測(cè)試，fail測(cè)試三種模式選用
3、有及暫停模式，分別用于檢修機(jī)器及臨時(shí)排除卡料之用
4、出料管滿(mǎn)管數(shù)量可由客戶(hù)自由設(shè)定
5、fail料可以由用戶(hù)設(shè)定重測(cè)次數(shù)
6、測(cè)試機(jī)的接口信號(hào)高低電平可以由用戶(hù)設(shè)定
7、機(jī)械異常時(shí)由led顯示異常代碼，方便用戶(hù)排除故障
8、可顯示ok/fail料的測(cè)試數(shù)量及總測(cè)試次數(shù)
2.ic測(cè)試座工作原理
原理：
IC測(cè)試座主要就是用於檢查查在線(xiàn)的單個(gè)IC元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，以及模擬器件作用和數(shù)字器件邏輯作用測(cè)試。
IC測(cè)試座就是測(cè)試期間在惡劣的環(huán)境條件下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書(shū)所規(guī)定的作用及性能指標(biāo)。是對(duì)在線(xiàn)元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。
IC測(cè)試座采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)和自動(dòng)下壓式結(jié)構(gòu)，操作方便；翻蓋的上蓋的IC壓板采用彈壓式結(jié)構(gòu)，能自動(dòng)調(diào)節(jié)下壓力，保證IC的壓力均勻。
探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會(huì)損壞錫球。高精度的定位槽或?qū)蚩祝ＷCIC定位精確，生產(chǎn)效率高探針可更換，維修方便，成本低。
3.ic測(cè)試座應(yīng)用
應(yīng)用：
ic測(cè)試座主要用于檢查在線(xiàn)的單個(gè)ic元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試。
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